PCB及び電子部品向け高精度なイオン汚染検査
IPC規格に基づいた動的および静的な試験方法の両方に対応しています。追加の設備投資を必要とせず、さまざまな顧客のニーズにお応えできます。
PCBの表面に付着した荷電粒子による導電率の変化を捉えて、イオン汚染の程度を正確に測ることができます。
ROSE試験（2.3.25）及びイオンクロマトグラフィー（2.3.28）を含むIPC-TM-650試験方法に完全に準拠します。
イオン汚染とは、電子機器表面に存在する帯電粒子（イオン）がデバイスの正常な機能を妨害する現象です。ほこり、湿気、汚染物質を通して導入されたこれらのイオンは、電流の流れを乱し、短絡を引き起こし、または敏感な部品の動作を妨害する残留物を残します。
航空宇宙、自動車、軍事、通信産業においては、コンフォーマルコーティング、エポキシ振とう、またはアンダーフィルプロセスにおいて、汚染のないPCBが不可欠です。アセンブリに残ったフラックス残留物は、剥離やはんだぬれ不良を引き起こすため、清浄度試験は日常的な品質管理手順となっています。
| 試験方法 | IPC TM-650 参照 | ||
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イオンクロマトグラフィー |
イオンクロマトグラフィー |
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材料のSIRテスト |
IPC TM 650 2.6.3 シリーズ |
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電気泳動試験 |
IPC TM 650 2.6.14 シリーズ |
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R.O.S.E. 試験 |
IPC TM 650 2.3.25 |
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修正R.O.S.E.試験 |
IPC TM 650 2.3.25.1 |
μg/NaCl/cm² IPCの限界検出精度
動的及び静的試験方法
動的・静的試験方法
連続試験